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高压I-V测试系统成功交付,助推半导体创新研究

发表时间:2026/9/7 14:40:33

近日,开云手机在线官方网站成功向河南某高校完成一套高压I-V测试系统的交付,设备已通过现场验收,正式投入使用。


该设备搭载 0~10kV 宽量程高压输出、10nA 级电流测试精度,支持 RT~250℃变温测试,兼具过流保护、远程控制与上位机数据管理功能,可精准表征功率器件击穿电压、漏电流等关键参数,为半导体相关专业的实验教学与科研项目提供了可靠支撑。


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这套系统搭载多项核心技术,可匹配高校实验室对高压电学表征的需求:

◈ 宽量程高精度测试能力:电压范围覆盖 0~10KV,电流范围 0~1mA,电流测试精度达 10nA,电压调整精度≤0.1%,可精准捕捉器件微小的电学特性变化,满足功率器件击穿电压、漏电流等关键参数的测试需求。


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◈ 模块化集成设计:系统集成高压源模块、温控平台与定制化测试夹具,支持器件在控温环境下的电学特性测试,同时兼容多种封装器件,无需复杂布线即可快速搭建测试流程。


◈ 直观数据解析:可实时绘制 I-V 特性曲线,自动提取击穿电压、导通电阻、阈值电压等关键参数,为器件性能评估、缺陷分析提供直观数据支撑。


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测试数据




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